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红外探伤测试仪
NIR-01-3D型红外探伤测试仪是采用欧洲CNC工程铝合金材料，其表面都采用了高强度漆面和电氧化工艺保护，系统外框采用高质量工业设计，所有的部件的设计都达到了长
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2020-09-08 |
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手动无接触硅片测试仪
手动硅片测试仪可以测量硅片厚度、总厚度变化、弯曲度，，确保与其他工艺仪器的兼容与统一。硅片无接触测试仪-产品特点■无接触测量■适用的晶圆材料包括Si，GaA
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2020-09-08 |
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无接触单点少子寿命测试仪
HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波
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2020-09-08 |
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无接触少子寿命扫描仪
HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描
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金属四探针电阻率方阻测试仪
金属四探电阻率方阻测试仪HS-MPRT-4用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。
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2020-09-08 |
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少子寿命测试仪
少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿
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原生多晶电阻率测试仪
原生多晶电阻率测试仪是一款高端电阻率测试仪器，具有电阻率大量程及超大量程测量的特点，实现了电阻率从0.0001欧姆.厘米到几万欧姆.厘米（可扩展）的测试范围，
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硅料综合测试仪
本仪器是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。硅料综合测试仪 - 产
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2020-09-08 |
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蓝宝石定向仪
HS-JF-Z2蓝宝石定向仪，是我公司基于市场目前缺乏对晶体生长切割后，需要对晶圆进行晶向指数分析，晶体长势分析，晶体缺陷分析等一系列有益于晶体更完好的呈现，
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2020-09-08 |
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