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北京合能阳光新能源技术有限公司

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首页 > 供应产品 > 无接触少子寿命测试仪HS-MWR-SIM
无接触少子寿命测试仪HS-MWR-SIM
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产品: 浏览次数:115无接触少子寿命测试仪HS-MWR-SIM 
单价: 1.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 1 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-02-03 17:09
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详细信息

HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的,并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理少子寿命测试量程从0.1μs20ms,电阻率量程为>0.1Ω.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业

 

产品特点

■ 无接触和无损伤测量

■ 可移动扫描头,便于测量

■ 测试范围广:包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量

■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等

■ 性价比高,极大程度地降低了企业的测试成本

■ 质保期:1

 

 

推荐工作条件

温度:15-30℃
■ 湿度:10%~80%
■ 大气压:750±30毫米汞柱

 

技术指标

少子寿命测试范围:0.1μs-20ms

测试尺寸:尺寸不限

测试时间:1-30s(具体和信号质量及测试精度有关)

■ 电阻率范围:>0.1Ω.cm

■ 激光波长:980±30nm,测试功率范围:50-500mw,脉冲宽度调节范围:0.5-60μs

■ 仪器测试精度:±3.5%

工作频率:10GHz±0.5

微波测试单元功率:0.01W±10%

电源:~220V  50Hz    功耗<30W

■ 扫描头尺寸:290mm *200mm *65mm, 电器控制单元: 210mm*220mm*60mm

■ 扫描头重量:3KG,电器控制单元:1kg


询价单