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SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷，适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高准度定向仪，实现了缺陷和定向双功能。
产品特点：
■ 缺陷和定向双功能
■ 配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩，确保安全使用
■ 表格和曲线的形式显示，一目了然
■ 速度快，重复性好
■ 效率高，数据实时处理
技术参数：
■ 测试时间：1-2分钟
■ 重复性精度：≤±5″。
■ 测角精度为±15″
■ 最小读数1″
典型客户:
台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。
晶片表面缺陷测试仪