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适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度准确测量。
特征
液晶显示
接触式测量
手动测量模式
数据实时显示
具有输出接口，可选配适配器实现232接口功能
技术指标
测量范围：0～12.7
分辨率：0.001
外形尺寸：300（L）×200（B）×340
硅片测厚仪
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硅片测厚仪
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适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度准确测量。
特征 液晶显示 接触式测量 手动测量模式 数据实时显示 具有输出接口，可选配适配器实现232接口功能
技术指标 测量范围：0～12.7 分辨率：0.001 外形尺寸：300（L）×200（B）×340 |