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特征
■适用于硅片等各种材料的厚度准确测量
■测量范围：0～2
■分辨率：0.1μm
■微电脑控制、液晶显示
■菜单式界面、PVC面自动统计
■显示厚度、TV、平均值和统计偏差
■电源：AC 220 50
板操作
■接触式测量
■测头自动升降
■手动、自动双重测量模式
■数据实时显示、
半自动硅片厚度测试仪
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半自动硅片厚度测试仪
详细信息 特征 ■适用于硅片等各种材料的厚度准确测量 ■测量范围：0～2 ■分辨率：0.1μm ■微电脑控制、液晶显示 ■菜单式界面、PVC面自动统计 ■显示厚度、TV、平均值和统计偏差 ■电源：AC 220 50
板操作 ■接触式测量 ■测头自动升降 ■手动、自动双重测量模式 ■数据实时显示、 |